描述
符合ISO 17025:2017標準的CDMS產(chǎn)品。NIST標準的可追溯性或單獨認證有證書。
Pelcotec™ CDMS-XY?ISO標樣是一種用于掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、離子束雕刻、CD-SEM、激光掃描顯微鏡和原子力顯微鏡快速、精確校準的便捷工具。該標樣提供了 X 和 Y 兩個坐標軸的比例尺線，可在不旋轉樣品臺的情況下輕松進行二維校準。
Pelcotec™ CDMS-XY?ISO標樣使用最新的半導體和微電子制造技術制成，具有卓越的線緣質量，可提供廣泛的測量范圍。
該標樣有兩種特征尺寸范圍可選，分別是 Pelcotec™ CDMS-XY-1T?ISO和 Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T?ISO，每個尺寸范圍都提供可追溯和認證標樣，總共有四種：
Pelcotec™ CDMS-XY-1T?ISO：特征尺寸范圍為 2.0mm 到 1um，適用于放大倍率在 10x – 20,000x 之間的臺式掃描電鏡和低到中等放大應用。
| 產(chǎn)品編號 | 描述 | 單位 |
|---|---|---|
| 693-1 | Pelcotec™ CDMS-XY-1T?ISO，2mm – 1μm，可追溯，沒有樣品座 | 個 |
Pelcotec™ CDMS-XY-1C?ISO：每個標樣均根據(jù) NIST 標準進行了單獨認證，特征尺寸范圍為 2.0mm 到 1μm，適用于放大倍率在 10x – 20,000x 之間的臺式掃描電鏡和低到中等放大應用。
| 產(chǎn)品編號 | 描述 | 單位 |
|---|---|---|
| 697-1 | Pelcotec™ CDMS-XY-1C?ISO，2mm – 1μm，已認證，沒有樣品座 | 個 |
Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T?ISO：特征尺寸范圍為 2.0mm 到 100nm，適用于所有掃描電鏡和大多數(shù)場發(fā)射掃描電鏡應用，放大倍率可達 10 – 200,000x。
| 產(chǎn)品編號 | 描述 | 單位 |
|---|---|---|
| 694-1 | Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T?ISO，2mm – 100nm，可溯源，沒有樣品座 | 個 |
Pelcotec™ CDMS-XY-0.1C?ISO：每個標樣均根據(jù) NIST 標準進行了單獨認證，特征尺寸范圍為 2.0mm 到 100nm，適用于所有掃描電鏡和大多數(shù)場發(fā)射掃描電鏡應用，放大倍率可達 10 – 200,000x。
| 產(chǎn)品編號 | 描述 | 單位 |
|---|---|---|
| 698-01 | Pelcotec™ CDMS-XY-0.1C?ISO，2mm – 100nm，已認證，沒有樣品座 | 個 |
該標樣的特征尺寸范圍見下表：
Pelcotec™ CDMS-XY-1T?ISO?和 -1C?ISO?的特征尺寸為：
2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50μm、10μm、5μm、2μm 和 1μm。
Pelcotec™ CDMS-XY-0.1T?ISO?和 0.1C?ISO?的特征尺寸為：
2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50μm、10μm、5μm、2μm 和 1μm、500nm、250nm 和 100nm。
可選的預先安裝在樣品座上。
| Pelcotec™ CDMS-XY-1-ISO | Pelcotec™ CDMS-XY-0.1-ISO | |
| 基底尺寸：2.5×2.5mm | ? | ? |
| 基底厚度：525±10μm | ? | ? |
| 唯一序列識別號 | ? | ? |
| 2mm、1mm、0.5mm 的校準方塊 | ? | ? |
| 垂直于 X 軸和 Y 軸的刻度線，間距為 10um、5μm、2μm 和 1μm | ? | ? |
| 僅限高分辨率版本 – 垂直于 X 和 Y 軸的附加刻度線以 500、250 和 100 nm 節(jié)距標出 | — | ? |
| 特征材料：50nm Cr (2mm – 5μm) | ? | ? |
| 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm） | ? | ? |
| 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm） | — | ? |
| 可在晶圓級追溯到 NIST（ISO 17025:2017 認證標準） | T 版本 | T 版本 |
| CDMS 標樣直接獲得 NIST 標準認證（ISO 17025:2017 認證標準） | C版本 | C版本 |
| 不含樣品座 | ? | ? |
| 可安裝于SEM樣品臺 | ? | ? |
| 精度優(yōu)于0.3% | ? | ? |
